什么是四探针电阻率测试仪？( 二 ) _四探针电阻率测试仪主要是测什么电阻率的？

直流四探针法测量电阻率的基本原理是什么?油体积电阻率测定仪按DL421.91《绝缘油体积电阻率测定法》的电力行业标准为依据，根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定专用仪器。具有结构简单、线性度好、灵敏度高、测试结果稳定、操作安全等优点，其性能远高于通常的电压电流法。仪器由参数测量系统、油杯加热控温系统两部分组成，具有自动计时、液晶显示功能。可测量绝缘油体积电阻率。
正极材料极片电阻率是什么？正极材料极片电阻率是正极材料的电阻率，首先要知道电池片的厚度、直径、探针间距、测点距边缘的距离、环境温度和电池片的PN结情况；在测量中要知道测量电流，和3探针的电压。就可以知道电阻率是多少。
正极材料极片电阻率测试仪也有很多种，例如高温的或者常温的，不同的正极材料极片电阻率测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。举例，正极材料极片电阻率测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层。
正极材料极片电阻率测定的原因
因此通过极片电阻的测试，发现极片电阻与锂离子电池电阻之间的对应关系，可以实现对锂离子电池电阻进行预评估。不仅如此，通过极片电阻测试结果，除了可用于匀浆涂布工艺及配方的改进，还能够及时筛选分类并剔除电阻值较大的极片，不使之流入单体制造的工序，提升终端产品品质，实现对材料体系的快速评价。
扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。hrms800高温四探针电阻率测试仪就是，主要测量的参数就是半导体材料的电阻、电阻率、方块电阻等。
四探针法消除接触电阻的原理【什么是四探针电阻率测试仪？】KDY—1型四探针电阻率/方阻测试仪
使用说明书
广州市昆德科技有限公司
1、概述
KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些薄层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的专利产品：“小游移四探针头” ，探针游移率在0.1～0.2% 。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的最大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均匀度，给测量带来很大方便。
2、测试仪结构及工作原理
测试仪主机由主机板、电源板、前面板、后背板、机箱组成。电压表、电流表、电流调节电位器、恒流源开关及各种选择开关均装在前面板上（见图2）。后背板上只装有电源插座、电源开关、四探针头连接插座、数据处理器连接插座及保险管（见图3）。机箱底座上安装了主机板及电源板，相互间均通过接插件联接。仪器的工作原理如图1所示：
测试仪的基本原理仍然是恒流源给探针头（1、4探针）提供稳定的测量电流I（由DVM1监测），探针头（2、3）探针测取电位差V（由DVM2测量），由下式即可计算出材料的电阻率：
厚度小于4倍探针间距的样片均可按下式计算
式中：V——DVM2的读数， mV 。
I——DVM1的读数， mA 。
W——被测样片的厚度值以cm为单位。
F（W/S）——厚度修正系数，数值可查附录二。
F（S/D）——直径修正系数，数值可查附录三。
Fsp——探针间距修正系数。
Ft——温度修正系数，数值可查附录一。
由于本机中已有小数点处理环节，因此使用时无需再考虑电流、电压的单位问题。如果用户配置了HQ-710E数据处理器只要置入厚度W、FSP、测量电流I等有关参数，一切计算、记录均由它代劳了。如果没有数据处理器（HQ-710E），用户同样可以依据上式用普通计算器算出准确的样片电阻率。